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題名：由國際專利侵害規範與實務論我國專利侵害鑑定要點之修訂與實務問題(上)
書刊名：智慧財產權月刊
作者：張仁平
作者(外文)：Chang, Jen-ping
出版日期：2006
卷期：90
頁次：頁64-110
主題關鍵詞：專利侵害鑑定；專利法
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本文係針對專利侵害鑑定實務中之各階段與要件，包括解釋申請專利範圍、解析申請專利範圍之技術特徵、解析待鑑定對象之技術內容、全要件原則、文義讀取、逆均等論、均等論、禁反言、先前技術阻卻等，參照國際相關規範與實務，比較說明我國原「專利侵害鑑定基準」與修正後「專利侵害鑑定要點」之差異及修正重點，並探討相關實務操作問題。
期刊論文
1.張仁平(20030300)。論方法界定產物之請求項。智慧財產權月刊，51，13-33。new window  延伸查詢new window
2.張仁平(20030400)。論方法界定產物之請求項。智慧財產權月刊，52，14-51。new window  延伸查詢new window
3.(2002)。X ZR 168/00: Schneidmesser。GRUR，515。  new window
4.(2002)。X ZR 43/01: Kunststoffrohrteil。GRUR，511。  new window
5.(2002)。X ZR 73/01: Custodiol。GRUR，527。  new window
6.(2002)。X ZB 12/00: Custodiol。GRUR，523。  new window
7.(2002)。X ZR 135/01: Schneidmesser。GRUR，519。  new window
圖書
1.尹新天(2005)。專利權的保護。智識產權出版社。  延伸查詢new window
2.經濟部中央標準局(1996)。專利侵害鑑定基準。台北：經濟部中央標準局。  延伸查詢new window
3.經濟部智慧財產局(20040701)。專利審查基準。  延伸查詢new window
4.智慧財產局(2004)。專利侵害鑑定要點。  延伸查詢new window
5.(2001)。審查指南。  延伸查詢new window
6.(1993)。GRUR International。  new window
圖書論文
1.(20051004)。Transitional Phrases。Manual of Patents Examining Procedure。  new window
 
 
 
 
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