| 期刊論文| 1. | Bykov, V. A.、Novikov, Y. A.、Rakov, A. V.、Shikin, S. M.(2002)。Defining the parameters of a cantilever tip AFM by reference structure。Ultramicroscopy，96，175-180。   | | 2. | Dongmo, L. S.、Villarrubia, J. S.、Jones, S. N.、Renegar, T. B.、Postek, M. T.、Song, J. F.(2000)。Experimental test of blind tip reconstruction for scanning probe microscopy。Ultramicroscopy，85，141-153。 | | 3. | Hudspeth, Q. M.、Nagle, P.、Zhao, Y. P.、Karabacak, T.、Nguyen, C. V.、Meyyappan, M.、Wang, G. C.、Lu, T. M.(2002)。How does a multiwalled carbon nanotube atomic force microscopy probe affect the determination of surface roughness statistics?。Surface Science，515，453-461。 | | 4. | Sedin, D. L.、Rowlen, K. L.(2001)。Influence of tip size on AFM roughness measurements。Applied Surface Science，182，40-48。 | | 5. | Sung, Y. E.、Seung, Y. H.、Gu, H. H.、Hung, K.(2003)。An experimental study on the adhesion at a nano-contact。Wear，254，974-980。 | 學位論文| 1. | 林昆蔚(2003)。非接觸式原子力顯微鏡探針振動分析(碩士論文)。國立成功大學。 延伸查詢 | | 2. | 林世峰(2002)。原子力顯微鏡探針陽極氧化二氧化矽與應用(碩士論文)。國立東華大學。 延伸查詢 | 圖書| 1. | 俄國NT-MDT公司、鎧柏科技(2003)。AFM P47 Pro操作手冊。台北。 延伸查詢 | | 2. | 蘇朝墩(2002)。品質工程。臺北：中華民國品質管制學會。 延伸查詢 | |