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引文資料
題名:
應用ICA與DEA方法評估半導體產業封測領域公司經營績效--以臺灣中型半導體封測廠為例
書刊名:
中山管理評論
作者:
呂正欽
/
高凌菁
/
傅新彬
作者(外文):
Lu, Cheng-chin
/
Kao, Ling-jing
/
Fu, Hsin-pin
出版日期:
2016
卷期:
24:3
頁次:
頁503-530
主題關鍵詞:
半導體產業
;
經營績效
;
績效評估
;
獨立成份分析
;
資料包絡法
;
Semiconductor industry
;
Business performance
;
Efficiency evaluation
;
Independent component analysis
;
Data envelopment analysis
原始連結:
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相關次數:
被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
排除自我引用:0
共同引用:
2
點閱:13
期刊論文
1.
黃美瑛、黃舒瑜(20100900)。Productivity Evaluation of Taiwanese Semiconductor Companies Using a Three-stage Malmquist DEA Approach。應用經濟論叢,特刊,31-57。
延伸查詢
2.
Zhu, J.(2001)。Super-efficiency and DEA sensitivity analysis。European Journal of Operational Research,129(2),443-455。
3.
Wen, H. C.、Huang, J. H.、Cheng, Y. L.(2012)。What Japanese Semiconductor Enterprises Can Learn from the Asset-Light Business Model for Sustainable Competitive Advantage。Asian Business and Management,11(5),615-649。
4.
Beasley, J. E.(1990)。Comparing University Departments。Omega International Journal of Management Science,18(2),171-183。
5.
Liu, Fuh-Hwa Franklin、Wang, Peng-Hsiang(2008)。DEA Malmquist productivity measure: Taiwanese semiconductor companies。International Journal Production Economics,112(1),367-379。
6.
Beckmann, C. F.、Smith, S. M.(2004)。Probabilistic Independent Component Analysis for Functional Magnetic Resonance Imaging。IEEE Transactions on Medical Imaging,24(2),137-152。
7.
Beckmann, C. F.(2012)。Modeling with independent components。Neuroimage,62(2),891-901。
8.
Chueh, H. E.、Jheng, J. Y.(2012)。Applying data envelopment analysis to evaluation of Taiwanese solar cell industry operational performance。International Journal of Computer Science & Information Technology,4(4),1-8。
9.
Déniz, O.、Castrillón, M.、Hernández, M.(2003)。Pace recognition using independent component analysis and support vector machines。Pattern Recognition Letters,24(13),2153-2157。
10.
Dulá, J. H.、Hickman, B. L.(1997)。Effects of excluding the column being scored from the DEA envelopment LP technology matrix。Journal of the Operational Research Society,48(10),1001-1012。
11.
Eloyan, A.、Ghosh, S. K.(2013)。A semi-parametric approach to source separation using independent component analysis。Computational Statistics & Data Analysis,58(1),383-396。
12.
Guo, Y.(2011)。A general probabilistic model for group independent component analysis and its estimation methods。Biometrics,67(4),1532-1542。
13.
Hyvärinen, A.、Oja, E.(2000)。Independent component analysis: Algorithms and applications。Neural Networks,13(4),411-430。
14.
Roll, Y. W.、Golany, B.(1991)。Controlling factor weights in DEA。IIE Transactions,23(1),2-9。
15.
Silva, E.、Stefanou, S.(2003)。Nonparametric Dynamic Production Analysis and the Theory of Cost。Journal of Productivity Analysis,19(2),5-32。
16.
Silvey, S. D.(1969)。Multicollinearity and imprecise estimation。Journal of the Royal Statistical Society,31(3),539-552。
17.
Weber, C.(2004)。Yield learning and the sources of profitability in semiconductor manufacturing and process development。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing,17(4),590-596。
18.
Adler, N.、Yazhemsky, E.(2010)。Improving discrimination in data envelopment analysis: PCA-DEA or variable reduction。European Journal of Operational Research,202(1),273-284。
19.
Bartlett, M. S.、Movellan, J. R.、Sejnowski, T. J.(2002)。Face Recognition by Independent Component Analysis。IEEE Transactions on Neural Networks,13(6),1450-1464。
20.
Charnes, A.、Cooper, W. W.(1962)。Programming with Linear Fractional Functions。Naval Research Logistics Quarterly,9(3/4),181-186。
21.
Comon, P.(1994)。Independent component analysis: a new concept?。Signal Processing,36(3),287-314。
22.
V. David Sánchez A.(2002)。Frontiers of research in BSS/ICA。Neruocomputing,49(1-4),7-23。
23.
Dyson, R. G.、Thanassoulis, E.(1988)。Reducing Weight Flexibility in Data Envelopment Analysis。Journal of the Operational Research Society,39(6),563-576。
24.
Farrar, D. E.、Glauber, R. R.(1967)。Multicollinearity in Regression Analysis。The Review of Economics and Statistics,49(1),92-107。
25.
Hyvärinen, A.(1999)。Fast and robust fixed-point algorithms for independent component analysis。IEEE Transactions on Neural Networks,10(3),626-634。
26.
Leachman, R. C.、Hodges, D. A.(1996)。Benchmarking semiconductor manufacturing。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing,9(2),158-169。
27.
Thrall, R. M.(1996)。Duality, Classification and Slacks in DEA。Annals of Operations Research,66(2),109-138。
28.
Vigario, R.、Sarela, J.、Jousmaki, V.、Hamalainen, M.、Oja, E.(2000)。Independent Component Approach to the Analysis of EEG and MEG Recordings。IEEE Transactions on Biomedical Engineering,47(5),589-593。
29.
Tone, Kaoru(2002)。A slacks-based measure of super-efficiency in data envelopment analysis。European Journal of Operational Research,143(1),32-41。
30.
Fried, Harold O.、Lovell, C. A. Knox、Schmidt, Shelton S.、Yaisawarng, Suthathip(2002)。Accounting for Environmental Effects and Statistical Noise in Data Envelopment Analysis。Journal of Productivity Analysis,17(1/2),157-174。
31.
Andersen, Per、Petersen, Niels Christian(1993)。A procedure for ranking efficient units in data envelopment analysis。Management Science,39(10),1261-1264。
32.
Fried, Harold O.、Schmidt, Shelton S.、Yaisawarng, Suthathip(1999)。Incorporating the Operating Environment into a Nonparametric Measure of Technical Efficiency。Journal of Productivity Analysis,12(3),249-267。
33.
Banker, Rajiv D.、Charnes, Abraham、Cooper, William Wager(1984)。Some Models for Estimating Technical and Scale Inefficiencies in Data Envelopment Analysis。Management Science,30(9),1078-1092。
34.
Tone, Kaoru(2001)。A slacks-based measure of efficiency in data envelopment analysis。European Journal of Operational Research,130(3),498-509。
35.
Farrell, Michael James(1957)。The Measurement of Productive Efficiency。Journal of the Royal Statistical Society: Series A (General),120(3),253-290。
36.
Charnes, Abraham、Cooper, William W.、Rhodes, Edwardo(1978)。Measuring the efficiency of decision making units。European Journal of Operational Research,2(6),429-444。
會議論文
1.
Carbone, T. A.、Semicond, F.(2000)。Measuring efficiency of semiconductor manufacturing operations using data envelopment analysis。IEEE 2000 Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop。Boston。
2.
Chen, W. C.、Chien, C. F.、Chou, M. H.(2008)。Economic efficiency analysis of wafer fabrication facilities。The 2009 Winter Simulation Conference。Miami。
學位論文
1.
李明德(2008)。以資料包絡法分析半導體封裝測試廠經營績效(碩士論文)。逢甲大學。
延伸查詢
圖書
1.
Cichocki, A.、Amari, S.-I.(2002)。Adaptive blind signal and image processing: Learning algorithms and applications。New York. NY:John Wiley and Sons。
2.
陳玲君(2012)。2012半導體工業年鑑。新竹:工業技術研究院產業經濟與趨勢研究中心。
延伸查詢
3.
Kurowicka, D.、Cooke, R. M.(2006)。Uncertainty Analysis and High Dimensional Dependence Modeling。New York:John Wiley & Sons, Inc.。
4.
Cover, T. M.、Thomas, J. A.(1991)。Elements of Information Theory。New York, N.Y.:John Wiley and Sons。
5.
Hyvärinen, A.、Karhunen, J.、Oja, E.(2001)。Independent Component Analysis。New York, NY:John Wiley and Sons。
6.
Lee, T. W.(1998)。Independent Component Analysis: Theory and Application。Boston, MA:Kluwer Academic Publishers。
單篇論文
1.
Silva, E.,Lansink, O. A.(2013)。Dynamic efficiency measurement: a directional distance function approach,Wageningen University。
圖書論文
1.
Shen, C. W.、Cheng, M. J.、Chi, M. C.(2009)。Measurement of Production Efficiency in Semiconductor Assembly House: Approach of Data Envelopment Analysis。Engineering the Computer Science and IT。New Delhi, IN:In-Teh。
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