本研究以掃瞄電子顯微╱X-射線能譜分析法分析試射一般及無鉛子彈採得之手部 、彈殼內及被射物表面之無機射擊殘跡顆粒。 除典型之球形或類球形顆粒外，另觀察到首 次發現之空心蛋殼狀及罕見之片狀顆粒，並對片狀顆粒進行 X-ray mapping 以瞭解各元素 之分佈情形。無鉛子彈彈殼內射擊殘跡之組成雖然非典型之鋇、 銻、鉛，但因受前次射擊 殘留槍內成分之影響，可在手部及被射物表面樣品中測得數量少但具鋇、銻、鉛典型組成之 顆粒，此對無鉛子彈造成成之射擊殘跡之鑑析有正面影響。