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題名：積體電路多樣產品生產線製造績效評估之研究
書刊名：工業工程學刊
作者：唐麗英 引用關係／李威儀／林雍己／張永佳 引用關係
作者(外文)：Tong, Lee-ing／Li, Wei-i／Lin, Yung-chi／Chang, Yung-chia
出版日期：2000
卷期：17:2
頁次：頁191-198
主題關鍵詞：製造績效；積體電路；良率模式；製程缺陷；多樣產品生產線；Manufacturing performance integrated circuit；Yield model；Process defect；Multiple production lines
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期刊論文
1.Stapper, C. H.(1985)。The effects of wafer to wafer density variation on integrated circuit defect and fault distributions。IBM Journal of Research Development，29，87-97。  new window
2.Cunningham, J. A.(1990)。The use and evaluation of yield models in integrated circuit manufacturing。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，3，60-71。  new window
3.Murphy, B. T.(1964)。Cost-size optima of monolithic integrated circuits。Proceedings of the IEEE，52，1537-1545。  new window
4.Raghavachari, M.、Srinivasan, Aparna、Sullo, Pasquale(1997)。Poisson mixture yield models for integrated circuits: a critical review。Microelectron Reliability，37，565-580。  new window
5.Kikuda, S.、Miyamoto, H.、Moil, S.、Miro, M.、Yamada, M.(1991)。Optimized redundancy selection based on failure-related yield model for 64Mb DRAM and beyond。IEEE of Journal of Solid State Circuits，26，1550-1555。  new window
6.Ferris-Prabhu, A. V.(1985)。Modeling the critical area in yield forecasts。IEEE of Journal of Solid State Circuits，20，874-878。  new window
7.Ferris-Prabhu, A. V.(1990)。A cluster-modified Poisson model for estimating defect density and yield。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，3，54-59。  new window
圖書
1.Montgomery, D. C.、Peck, E. A.(1992)。Introduction to linear regression analysis。New York：John Wiley and Sons, Inc。  new window
2.Ferris-Prabhu, A. V.(1992)。Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling。Boston, MA：London：Artech House。  new window
 
 
 
 
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