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題名：建構晶圓圖分類之資料挖礦方法及其實證研究
書刊名：工業工程學刊
作者：簡禎富／林鼎浩／劉巧雯／彭誠湧／徐紹鐘／黃佳琪
作者(外文)：Chien, Chen-fu／Lin, Ting-hao／Liu, Qiao-wen／Peng, Cheng-yung／Hsu, Shao-chung／Huang, Chia-chi
出版日期：2002
卷期：19:2
頁次：頁23-38
主題關鍵詞：晶圓圖；神經網路；資料挖礦；故障診斷；決策分析；半導體製造；Wafer bin-map；Neural network；Data mining；Defect diagnosis；Decision analysis；Semiconductor manufacturing
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期刊論文
1.Friedman, D. J.、Hansen, M. H.、Nair, V. N.、James, D. A.(1997)。Model-free estimation of defect clustering in integrated circuit fabrication。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，10(3)，344-359。  new window
2.簡禎富、林鼎浩、彭誠湧、徐紹鐘(20010700)。建構半導體晶圓允收測試資料挖礦架構及其實證研究。工業工程學刊，18(4)，37-47。new window  延伸查詢new window
3.Chen, F.-L.、Liu, S.-F.(200008)。A Neural-Network Approach to Recognize Defect Spatial Pattern in Semiconductor Fabrication。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，13(3)，366-373。  new window
4.Baker, M. D.、Himmel, C. D.、May, G. S.(1995)。Time series modeling of reactive ion etching using neural networks。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，8(1)，62-71。  new window
5.Collica, R. S.、Card, J. P.、Martin, W.(1995)。SRAM bitmap shape recognition and sorting using neural network。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，8(3)，326-332。  new window
6.Grossberg, S.、Garpenter, G. A.(1987)。ART2: self-organization of stable category recognition codes for analog input patterns。Applied Optics，26(23)，4919-4930。  new window
7.Garpenter, G. A.、Grossberg, S.(1987)。The ART of adaptive pattern recognition by a self-organizing neural network。Computer，21(3)，77-88。  new window
8.Garpenter, G. A.、Grossberg, S.(1990)。ART3: hierarchical search using chemical transmitters in self-organizing pattern recognition architectures。Neural Networks，3，129-152。  new window
9.Garpenter, G. A.、Grossberg, S.、Rosen, D. B.(1991)。Fuzzy ART: fast stable learning and categorization of analog patterns by an adaptive resonance system。Neural Networks，4，759-771。  new window
10.Kaempf, U.(1995)。The binomial test: a simple tool to identify process problems。IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing，8(2)，160-166。  new window
11.Mallory, C. L.、Perloff, D. S.、Hasan, T. F.、Stanley, R. M.(1983)。Spatial yield analysis in integrated circuit manufacturing。Solid State Technology，November，121-127。  new window
12.Taam, W.、Hamada, M.(1993)。Detect spatial effects from factorial experiments: an application from integrated-circuit manufacturing。Technometrics，35(2)，149-160。  new window
會議論文
1.簡禎富、劉巧雯(2001)。Developing data mining methods for wafer bin map clustering and the empirical study in a semiconductor manufacturing fab。Tianjin, PRC。581-587。  new window
圖書
1.Skapura, David M.、Freeman, James A.(1991)。Neural Networks: Algorithms, Applications, and Programming Techniques。Addison-Wesley Publishing Company。  new window
2.Rao, D. B.、Rao, H. V.(1995)。C++ Neural Networks and Fuzzy Logic。New York：MIS Press。  new window
3.Agresti, Alan(1990)。Categorical Data Analysis。John Wiley & Sons, Inc.。  new window
4.林昇甫、洪成安(1996)。類神經網路入門與圖樣辨識。類神經網路入門與圖樣辨識。臺北。  延伸查詢new window
5.莊達人(1999)。VLSI製造技術。臺北：高立。  延伸查詢new window
6.Mirza, A. I.、Donoghue, G.、Drake, A. W.、Graves, S. C.(1995)。Spatial yield modeling for semiconductor wafers。IEEE/ SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference。沒有紀錄。  new window
 
 
 
 
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