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題名:應用TRIZ理論於探針卡測試設備研發
書刊名:International Journal of Systematic Innovation
作者:黃乾怡詹定叡吳珈錚
作者(外文):Huang, Chien-yiJan, Ting-jueWu, Chia-cheng
出版日期:2015
卷期:3:3
頁次:頁39-49
主題關鍵詞:晶圓檢測探針卡功能分析質場分析Wafer testTest probe cardFunctional analysisSubstance field analysis
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期刊論文
1.Kim, S. K.(2012)。Conceptual design based on Substance-Field Model in theory of Inventive Problem Solving。International Journal of Innovation, Management and Technology,3(4),306-309。  new window
會議論文
1.林阿德、楊耀中、許兆民(2011)。ACF製程中導電粒子薄膜厚度的影響。第三十五屆力學學會學術研討會。台南。  延伸查詢new window
2.Liang, T.、Hall, S.、Heck, H.、Brist, G.(2006)。A Practical Method for Modeling PCB Transmission Lines with Conductor Surface Roughness and Wideband Dielectric Properties。2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium,1780-1783。  new window
研究報告
1.Schoning, J.、Brandl, P.、Daiber, F.、Echtler, F.、Hilliges, O.、Hook, J.、Lochtefeld, M.、Motamedi, N.、Muller, L.、Olivier, P.、Roth, T.、Zadow, U.(2008)。Multi-Touch Surfaces: A Technical Guide。  new window
學位論文
1.施孟鎧(2006)。評估晶圓針測參數的實驗方法與數值分析模型之研究(博士論文)。國立中正大學。  延伸查詢new window
2.溫政峰(2010)。高速測試座的高頻模擬與測量--應用於IC自動測試機台電性補償(碩士論文)。中華大學。  延伸查詢new window
圖書
1.許棟樑(2013)。萃智創新工具精通。新竹:亞卓國際顧問股份有限公司。  延伸查詢new window
2.黃敬佩(2006)。ITO導電玻璃及相關透明導電膜之原理及應用。勝華科技股份有限公司。  延伸查詢new window
3.On-Wafer Vector Network Analyzer Calibration and Measurements。MICROTECH。  new window
4.Transparent Conductive Oxide Thin Films。Materion Corporation。  new window
 
 
 
 
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